Kode
Nama
Kategori
Status
XRFX-Ray Fluorescence (XRF) EDAXAlat untuk karakterisasi komposisi unsur pada sampel dengan memanfaatkan X-ray characteristic. Unsur yang bisa di deteksi yaitu Unsur Na - U.Active
XRDX-Ray Diffractometer (XRD) Bruker D8 AdvanceAlat ini digunakan untuk menganalisis jenis , komposisi, dan fasa senyawa pada sampel. Hasil pengujian berupa raw data berekstensi *.raw dan *.brmlActive
SEMSEM SU3500Scanning Electron Microscope (SEM) adalah alat untuk mencitrakan detail permukaan sampel dalam resolusi tinggi. Perbesaran maksimum SEM SU3500 adalah 300.000 kali, namun nilai perbesaran ini akan dibatasi oleh jenis dan kualitas sampel yang diamati. Untuk pengamatan SEM, sampel tidak dapat mengandung cairan atau berada dalam fasa cair. Pada SEM dapat dilakukan analisis Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS).Active
LRTEMTEM HT7700Transmission Electron Microscope (TEM) adalah alat untuk mencitrakan detail struktur internal sampel dalam resolusi tinggi. TEM HT7700 memiliki tegangan akselerasi maksimum sebesar 120kV. Perbesaran maksimum TEM HT7700 adalah 600.000 kali, namun nilai perbesaran ini akan dibatasi oleh jenis dan kualitas sampel yang diamati. Sampel TEM harus dapat ditembus oleh berkas elektron yaitu dengan ketebalan sampel maksimal 100nm. Untuk pengamatan TEM, sampel tidak dapat mengandung cairan atau berada dalam fasa cair. TEM Holder yang tersedia: Single tilt holder, Multi sample holder, Double tilt holder. *Noted : Untuk sampel biologi proses fiksasi perlu di lakukan oleh pemilik sampel PPNN hanya menerima sampel yang sudah siap di amati. Prosedur : Untuksampel yg sudah terdispersi dalam larutannya, kemudian diteteskan ke atas TEM grid sebanyak 15uL lalu didiamkan selama sekitar 60 menit hingga sampel mengering dan menyisakan sampel yg menempel pada grid. Nama alat TEM HT7700Active
HRTEMHR TEM H9500Transmission Electron Microscope (TEM) adalah alat untuk mencitrakan detail struktur internal sampel dalam resolusi tinggi. TEM H9500 memiliki tegangan akselerasi maksimum sebesar 300kV. Perbesaran maksimum TEM HT7700 adalah 2.000.000 kali, namun nilai perbesaran ini akan dibatasi oleh jenis dan kualitas sampel yang diamati. Sampel TEM harus dapat ditembus oleh berkas elektron yaitu dengan ketebalan sampel maksimal 200nm. Untuk pengamatan TEM, sampel tidak dapat mengandung cairan atau berada dalam fasa cair. Pada TEM ini dapat dilakukan analisis Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS) untuk analisis komposisi unsur dalam sampel. TEM Holder yang tersedia: Single tilt holder, Double tilt holder, dan Heating HolderInactive
PREPTEM-EPElectro-polishingAlat untuk menipiskan sampel TEM menggunakan campuran larutan asam.Inactive
PREPTEM-DPDimplerAlat yang digunakan untuk menipiskan sampel TEM menggunakan abrasive powder.Active
PREPTEM-TMTEM MillAlat preparasi sampel TEM menggunakan ion milling.Inactive
PREPTEM-MPMechanical-polishingAlat preparasi sampel TEM menggunakan abrasive filmOnly ITB
PREPTEM-UMUltramicrotomeAlat preparasi sampel TEM untuk sampel biologi yang digunakan untuk menyayat sampel yang telah ditanam didalam resinOnly ITB
Menampilkan 1 - 10 dari 109 data
Per halaman

Copyright © 2018 Research Center for Nanosciences and Nanotechnology - Institut Teknologi Bandung